Stručný popis předmětu:
Elektrochemický AFM a STM modul, nanolitografický modul pro AFM mikroskop – jedná se o modulární doplněk ke stávajícímu mikroskopu atomárních sil, přidávající možnost využívat pokročilé elektrochemické AFM a STM skenování studovaných povrchů a objektů, včetně lokálních redoxních reakcí – nanolitografické modifikace povrchu, elektrochemické způsoby měření zahrnují voltametrii, amperometrii a impedimetrii, bipotenciostatové uspořádání.
AFM mikroskop vstupní úrovně – jedná se o mikroskop atomárních sil schopný měřit v různých AFM módech – kontaktní (včetně zobrazení laterálních frikčních sil a zobrazení silových interakcí), semikontaktní a nekontaktní (možnost fázového kontrastu), a také v STM módu (skenovací tunelovací mikroskopie a spektroskopie), vodivostní AFM, mikroskopie elektrostatických a magnetických sil, metoda Kelvinovy sondy, měření piezoresponsivních sil, základní nanolitografické techniky a možnost nanomanipulací, vertikální i horizontální skenování, případně i pod jiným úhlem, automatizované základní operace (přiblížení sondy k povrchu vzorku, zaostření laseru na povrch raménka sondy, nastavení polohy fotodiody, nastavení polohy vzorku), motorizované zaostření a zoom optického mikroskopu.